耐火材料元素成分質(zhì)檢儀:EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過(guò)了江蘇省計量科學(xué)研究院的檢測,并通過(guò)中國儀器儀表學(xué)會(huì )分析儀器分會(huì )組織的科技成果鑒定。
耐火材料元素成分質(zhì)檢儀介紹 耐火材料元素成分質(zhì)檢儀報價(jià) EDX3600K技術(shù)參數
EDX3600K由江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷(xiāo)售;
X熒光光譜儀屬于分析檢測儀器,隨著(zhù)半導體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類(lèi)分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機械電子學(xué)結構、實(shí)驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動(dòng)化的結構,并向智能化、小型化、在線(xiàn)式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎,結合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果,研制出具有自主知識產(chǎn)權的EDX 3600K型X熒光光譜儀。
EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過(guò)了江蘇省計量科學(xué)研究院的檢測,并通過(guò)中國儀器儀表學(xué)會(huì )分析儀器分會(huì )組織的科技成果鑒定
耐火材料元素成分掃描儀應用領(lǐng)域:
專(zhuān)為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款高端設備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時(shí)在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監測、有色金屬、食品、農業(yè)等科研院所、大專(zhuān)院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。
性能優(yōu)勢:
1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率達到139eV,各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線(xiàn)
性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。
2. 測試精度更高,檢出限更低
①專(zhuān)業(yè)化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時(shí)達到10Pa以下,使設備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。
3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發(fā)的數字多道技術(shù),其線(xiàn)性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結果,
設計成高計數率,大大提高了設備的穩定性。
4. 一鍵式智能化操作
專(zhuān)業(yè)軟件,FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作,使操作簡(jiǎn)易,對操作人員限制小的特點(diǎn)。
5. 強大的自動(dòng)化功能
①自動(dòng)化程度高,具有自動(dòng)開(kāi)蓋、自動(dòng)切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動(dòng)穩譜裝置,保證了儀器工作的*性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,采用多參數的線(xiàn)性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無(wú)限數目模式的自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
7. 完善的光路系統
自主研發(fā)的光路系統,光程更短,光路損失更少,激發(fā)效果更佳。
8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能,自動(dòng)感應,沒(méi)有樣品時(shí)儀器不工作,無(wú)射線(xiàn)泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。
9. 安全警示系統
警告指示系統,通電時(shí)綠色指示燈亮,測試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。
耐火材料元素成分掃描儀儀器配置:
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統
可自動(dòng)開(kāi)啟的測試蓋
自動(dòng)切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動(dòng)穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
數字多道技術(shù)
多變量非線(xiàn)性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型
技術(shù)參數:
型號:EDX3600K
X射線(xiàn)源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時(shí)分析元素達三十多種,可根據客戶(hù)需要增加元素
含量范圍:ppm~99.99%
檢測時(shí)間:10秒以上
檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據客戶(hù)需求可供選擇
測井環(huán)境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下
濾光片:6種濾光片組合自動(dòng)切換
自旋裝置:可調速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數元素來(lái)說(shuō),檢出限達5~500ppm
真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
數據傳輸:數字多道技術(shù),快速分析,高計數率
測試臺:360°電動(dòng)旋轉式
保護系統:樣品腔為電動(dòng)控制,上蓋打開(kāi)時(shí)測試已完成
樣品放置:*的樣品杯設計,自帶壓環(huán),可防止樣品晃動(dòng)
數字多道技術(shù):計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度:15℃~30℃
(一)耐火材料的分類(lèi)
耐火材料種類(lèi)繁多,通常按耐火度高低分為普通耐火材料(1580~1770℃)、高級耐火材料(1770~2000℃)和特級耐火材料(2000℃以上);按化學(xué)特性分為酸性耐火材料、中性耐火材料和堿性耐火材料。此外,還有用于特殊場(chǎng)合的耐火材料。
現在對于耐火材料的定義,已經(jīng)不僅僅取決于耐火度是否在1580℃以上了。目前耐火材料泛指應用于冶金、石化、水泥、陶瓷等生產(chǎn)設備內襯的無(wú)機非金屬材料。
(二)不同耐火材料的化學(xué)組成成分
酸性耐火材料以氧化硅為主要成分,常用的有硅磚和粘土磚。硅磚是含氧化硅93%以上的硅質(zhì)制品,使用的原料有硅石、廢硅磚等,其抗酸性爐渣侵蝕能力強,荷重軟化溫度高,重復煅燒后體積不收縮,甚至略有膨脹;但其易受堿性渣的侵蝕,抗熱振性差。硅磚主要用于焦爐、耐火材料熔窯、酸性煉鋼爐等熱工設備。粘土磚以耐火粘土為主要原料,含有30%~46%的氧化鋁,屬弱酸性耐火材料,抗熱振性好,對酸性爐渣有抗蝕性,應用廣泛。
中性耐火材料以氧化鋁、氧化鉻或碳為主要成分。含氧化鋁95%以上的剛玉制品是一種用途較廣的優(yōu)質(zhì)耐火材料。以氧化鉻為主要成分的鉻磚對鋼渣的耐蝕性好,但抗熱振性較差,高溫荷重變形溫度較低。碳質(zhì)耐火材料有碳磚、石墨制品和碳化硅質(zhì)制品,其熱膨脹系數很低,導熱性高,耐熱振性能好,高溫強度高,抗酸堿和鹽的侵蝕,不受金屬和熔渣的潤濕,質(zhì)輕。廣泛用作高溫爐襯材料,也用作石油、化工的高壓釜內襯。
堿性耐火材料以氧化鎂、氧化鈣為主要成分,常用的是鎂磚。含氧化鎂80%~85%以上的鎂磚,對堿性渣和鐵渣有很好的抵抗性,耐火度比粘土磚和硅磚高。主要用于平爐、吹氧轉爐、電爐、有色金屬冶煉設備以及一些高溫設備上。
在特殊場(chǎng)合應用的耐火材料有高溫氧化物材料,如氧化鋁、氧化鑭、氧化鈹、氧化鈣、氧化鋯等,難熔化合物材料,如碳化物、氮化物、硼化物、硅化物和硫化物等;高溫復合材料,主要有金屬陶瓷、高溫無(wú)機涂層和纖維增強陶瓷等。
二、耐火材料行業(yè)的技術(shù)指標要求
通常,耐火材料要求測試元素為Na、Mg、Al、Si、K、Ca、Ti、Mn、Fe、Zr。其中,Al、Si、Zr為重點(diǎn)關(guān)注元素。
另外,該行業(yè)對Al的檢測誤差小于0.5%,對Si的檢測誤差小于0.5%,對Zr的檢測誤差小于0.3%。
三、耐火材料行業(yè)的應用解決方案
X熒光光譜儀對耐火材料行業(yè)的進(jìn)廠(chǎng)原料、耐火材料成品的元素組成成份具有很好的分析效果。這里以WDX系列X熒光光譜儀對耐火材料行業(yè)進(jìn)廠(chǎng)原料(硅石、礬土)及耐火材料成品的重復性測試為例,介紹耐火材料行業(yè)的應用解決方案。軟件優(yōu)勢:
采用公司新的能譜EDXRF軟件,FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作,操作簡(jiǎn)易,對操作人員限制小的特點(diǎn)。
具有多種測試模式設置和無(wú)限數目模式自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。