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無(wú)損鍍層測厚儀 X射線(xiàn)膜厚儀

無(wú)損鍍層測厚儀 X射線(xiàn)膜厚儀

簡(jiǎn)要描述:

無(wú)損鍍層測厚儀 X射線(xiàn)膜厚儀:Think600鍍層測厚儀使用高效而實(shí)用的正比計數盒和電制冷探測器,以實(shí)在的價(jià)格定位滿(mǎn)足鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作更人性化、更方便。

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  • 企業(yè)類(lèi)型:制造商
  • 新舊程度:全
  • 原產(chǎn)地:江蘇昆山
  • 環(huán)境溫度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 儀器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到鈾(U)
  • 精度:0.005mm

  天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點(diǎn)。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結果,結果準確度對某些樣品可以接近定量水平,分析時(shí)間短。
  X射線(xiàn)熒光光譜儀工作原理介紹
用X射線(xiàn)照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長(cháng)的熒光X射線(xiàn),需要把混合的X射線(xiàn)按波長(cháng)(或能量)分開(kāi),分別測量不同波長(cháng)(或能量)的X射線(xiàn)的強度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線(xiàn)熒光光譜儀。由于X光具有一定波長(cháng),同時(shí)又有一定能量,因此,X射線(xiàn)熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型:波長(cháng)色散型和能量色散型。下是這兩類(lèi)儀器的原理圖。

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Think600是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足金屬鍍層及含量測定的需要,人性化的設計,使測試工作更加輕松完成。
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Think600鍍層測厚儀使用高效而實(shí)用的正比計數盒和電制冷探測器,以實(shí)在的價(jià)格定位滿(mǎn)足鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作更人性化、更方便。

無(wú)損鍍層測厚儀 X射線(xiàn)膜厚儀性能特點(diǎn)

長(cháng)效穩定X銅光管
半導體硅片電制冷系統,摒棄液氮制冷
內置高清晰攝像頭,方便用戶(hù)隨時(shí)觀(guān)測樣品
脈沖處理器,數據處理快速準確
手動(dòng)開(kāi)關(guān)樣品腔,操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結構、外型高貴時(shí)尚
FP軟件,無(wú)標準樣品時(shí)亦可測量

無(wú)損鍍層測厚儀 X射線(xiàn)膜厚儀
技術(shù)指標

型號:THICK600
分析范圍: Ti-U,可分析3層15個(gè)元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
工作電壓:AC 110V/220V(建議配置交流凈化穩壓電源)
測量時(shí)間:40秒(可根據實(shí)際情況調整)
探測器分辨率:(160±5)eV
光管高壓:5-50kV
管流:50μA-1000μA
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:30%-70%
準直器:配置不同直徑準直孔,孔徑φ0.2mm
儀器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm
儀器重量:30kg

應用領(lǐng)域

廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業(yè)

天瑞大廈.jpg


地址:深圳市寶安區松崗鎮江邊創(chuàng )業(yè)一路福興工業(yè)園
18926776507
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