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鍍層厚度測試儀 電鍍層測厚儀

鍍層厚度測試儀 電鍍層測厚儀

簡(jiǎn)要描述:

鍍層厚度測試儀 電鍍層測厚儀:用X射線(xiàn)照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長(cháng)的熒光X射線(xiàn),需要把混合的X射線(xiàn)按波長(cháng)(或能量)分開(kāi),分別測量不同波長(cháng)(或能量)的X射線(xiàn)的強度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線(xiàn)熒光光譜儀。

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  • 企業(yè)類(lèi)型:制造商
  • 新舊程度:
  • 原產(chǎn)地:江蘇昆山
  • 環(huán)境溫度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 儀器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到鈾(U)
  • 精度:0.005mm

  X射線(xiàn)熒光光譜儀工作原理介紹 鍍層厚度測試儀 電鍍層測厚儀
用X射線(xiàn)照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長(cháng)的熒光X射線(xiàn),需要把混合的X射線(xiàn)按波長(cháng)(或能量)分開(kāi),分別測量不同波長(cháng)(或能量)的X射線(xiàn)的強度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線(xiàn)熒光光譜儀。由于X光具有一定波長(cháng),同時(shí)又有一定能量,因此,X射線(xiàn)熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型:波長(cháng)色散型和能量色散型。下是這兩類(lèi)儀器的原理圖。

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Thick 8000 鍍層厚度測試儀 電鍍層測厚儀

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時(shí)檢測元素:最多24個(gè)元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術(shù),最小孔徑達0.1mm,最小光斑達0.1mm
樣品觀(guān)察:配備全景和局部?jì)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

 


Thick800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層 
一次可同時(shí)分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回收程序
長(cháng)期工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg

公司介紹

  江蘇天瑞儀器股份有限公司是研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售ROHS分析儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀,等離子發(fā)射光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,氣相色譜儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A,EDX1800E,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000,OES8000S等。

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江蘇天瑞儀器股份有限公司大廈


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