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鍍層厚度測試儀,測厚儀

鍍層厚度測試儀,測厚儀

簡(jiǎn)要描述:

鍍層厚度測試儀,測厚儀:滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求、高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn),重復定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度、定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊、鼠標可控制移動(dòng)平臺,鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)、高分辨率探頭使分析結果更加精準、良好的射線(xiàn)屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護

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  • 分析含量:ppm到99.9%
  • 溫度適應范圍:15℃至30℃
  • 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
  • 樣品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
  • 分析范圍:同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層
  • 移動(dòng)平臺:精密二維移動(dòng)樣品平臺,探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現三維移動(dòng)。

 膜厚儀又叫膜厚計、膜厚測試儀,分為磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線(xiàn)儀鍍層測厚儀。采用磁感應原理時(shí),應用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測定覆層厚度。也能夠測定與之對應的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。   膜厚儀采用磁感應原理時(shí),應用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測定覆層厚度。也能夠測定與之對應的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。應用磁感應原理的測厚儀,準繩上能夠有導磁基體上的非導磁覆層厚度。假如覆層資料也有磁性,則請求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,丈量感應電動(dòng)勢的大小,儀器將該信號放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術(shù),應用磁阻來(lái)調制丈量信號。還采用設計的集成電路,引入微機,使丈量精度和重現性有了大幅度的進(jìn)步(簡(jiǎn)直達一個(gè)數量級)。   磁性原理膜厚儀可應用來(lái)準確丈量鋼鐵外表的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

鍍層厚度測試儀,測厚儀

滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求、高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn),重復定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度、定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊、鼠標可控制移動(dòng)平臺,鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)、高分辨率探頭使分析結果更加精準、良好的射線(xiàn)屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護

鍍層厚度測試儀,測厚儀

型號:Thick 800A、元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)、同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層、分析含量一般為ppm到99.9% 、鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同)、任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型、相互獨立的基體效應校正模型、多變量非線(xiàn)性回收程序、度適應范圍為15℃至30℃、電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源、外觀(guān)尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm、樣品室尺500(W)×350(D)×140(H) mm、重量:90kg


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