X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至100%，檢出限到2pg。
X熒光光譜儀是一種波長(cháng)較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線(xiàn)光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線(xiàn)熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征輻射，通過(guò)側里和分析樣品產(chǎn)生的x射線(xiàn)熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

歐盟環(huán)保標準ROHS掃描儀,江蘇天瑞儀器股份有限公司

ROHS無(wú)鹵檢測儀_ROHS元素分析儀性能參數

產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱(chēng)：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

ROHS元素分析儀，ROHS設備 性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標達到*水平
數字多道技術(shù)，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線(xiàn)激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動(dòng)穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線(xiàn)路單元
針對不同樣品自動(dòng)切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

標準配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強系統
高信噪比電子線(xiàn)路單元
內置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準直器和濾光片
自動(dòng)穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
ROHS元素分析儀，ROHS設備 應用領(lǐng)域

鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）

廠(chǎng)家介紹    

     江蘇天瑞儀器股份有限公司是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售一體型企業(yè)。 2011年1月25日，天瑞儀器在深圳創(chuàng )業(yè)板塊上市。股票代碼為300165。

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